一種存儲芯片簡易測試裝置

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202020118485.5 申請日 -
公開（公告）號 CN211016549U 公開（公告）日 2020-07-14
申請公布號 CN211016549U 申請公布日 2020-07-14
分類號 G11C29/56(2006.01)I 分類 -
發(fā)明人 叢維;金生 申請（專利權）人 上海優(yōu)村科技有限公司
代理機構 - 代理人 -
地址 201203上海市浦東新區(qū)中國（上海）自由貿(mào)易試驗區(qū)盛夏路570號1001B室
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本實用新型公開了一種存儲芯片簡易測試裝置，屬于存儲芯片技術領域，其包括殼體，所述殼體內(nèi)壁的下表面固定連接有電動推桿，所述電動推桿的頂端固定連接有底座，所述底座的左右兩側面均固定連接有第一滑塊，所述第一滑塊滑動連接在第一滑槽內(nèi)。該存儲芯片簡易測試裝置，通過設置夾板，伸縮桿、彈簧和主機，工作人員控制電動推桿工作，使得電動推桿帶動底座向下運動，使得底座通過主機和接口帶動存儲芯片向下運動，使得存儲芯片從通孔內(nèi)移出，工作人員向右拉動夾板，使得伸縮桿和彈簧收縮，工作人員向上拉動主機，使得主機帶動定位塊從定位槽內(nèi)移出，操作簡單，使得工作人員可以較為輕松的對檢測設備進行拆卸并維護。??