高密度電路板內(nèi)故障芯片定位裝置及定位方法
基本信息

| 申請?zhí)?/td> | CN201911363374.9 | 申請日 | - |
| 公開(公告)號 | CN110888044A | 公開(公告)日 | 2020-03-17 |
| 申請公布號 | CN110888044A | 申請公布日 | 2020-03-17 |
| 分類號 | G01R31/28 | 分類 | 測量;測試; |
| 發(fā)明人 | 曹楨;葉操;郭曉靜;楊思明;馮永生;祖安;唐彥夫;陳叢笑 | 申請(專利權(quán))人 | 北京航星中云科技有限公司 |
| 代理機構(gòu) | 長沙市護(hù)航專利代理事務(wù)所(特殊普通合伙) | 代理人 | 北京航星中云科技有限公司 |
| 地址 | 100000 北京市東城區(qū)和平里東街11號37號樓10130號 | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要

| 摘要 | 本發(fā)明公開了一種高密度電路板內(nèi)故障芯片定位裝置及定位方法,包括:檢測臺,放置待定位故障芯片的電路板;直流電源,對電路板上同一電源網(wǎng)絡(luò)下的芯片進(jìn)行供電;熱成像儀,成像方向朝向檢測臺,對檢測臺上供電后的電路板進(jìn)行熱力成像;圖像分析定位模塊,與熱成像儀連接,接收熱成像儀生成的熱力圖像,并根據(jù)熱力圖像的熱點確定電路板上故障芯片的位置。與現(xiàn)有的經(jīng)驗排除法相比,本發(fā)明查找電路板上故障芯片的準(zhǔn)確率大幅度提高,避免反復(fù)拆除和焊接芯片導(dǎo)致多次高溫操作引起芯片周邊其它元件失效的風(fēng)險,如果拆除一個故障芯片后電源網(wǎng)絡(luò)阻值未恢復(fù)正常,可重復(fù)采用以上操作定位下一故障芯片位置,在提高工作效率的同時降低了電路板的維護(hù)成本。 |





