一種動態(tài)隨機存儲器的測試方法及裝置
基本信息

| 申請?zhí)?/td> | CN202110722149.0 | 申請日 | - |
| 公開(公告)號 | CN113470725A | 公開(公告)日 | 2021-10-01 |
| 申請公布號 | CN113470725A | 申請公布日 | 2021-10-01 |
| 分類號 | G11C29/18(2006.01)I | 分類 | 信息存儲; |
| 發(fā)明人 | 謝登煌;宋文杰;劉孜 | 申請(專利權)人 | 深圳市晶存科技有限公司 |
| 代理機構 | 廣州嘉權專利商標事務所有限公司 | 代理人 | 張志輝 |
| 地址 | 518048廣東省深圳市福田區(qū)福保街道福保社區(qū)桃花路1-3號達升大樓2層FB區(qū) | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要

| 摘要 | 本發(fā)明涉及一種動態(tài)隨機存儲器的測試方法,包括:擦除動態(tài)隨機存儲器的待測區(qū)域中的數(shù)據(jù)(S101);在所擦除的待測區(qū)域中再寫入數(shù)據(jù),其中,將待測區(qū)域平均分頁,在首頁中寫入數(shù)據(jù),通過拷貝相鄰頁中數(shù)據(jù)的方式寫滿整個待測區(qū)域(S102);讀取所寫滿數(shù)據(jù)的待測區(qū)域中首頁和尾頁的數(shù)據(jù),并且確定所述首頁的數(shù)據(jù)和尾頁的數(shù)據(jù)不一致時,標記相應的動態(tài)隨機存儲器的待測區(qū)域已損壞(S103)。還涉及一種動態(tài)隨機存儲器的測試裝置,包括:記錄單元、查詢單元、數(shù)據(jù)寫入單元、讀取單元、拼接單元、計算單元、對比單元、分析單元。本發(fā)明通過拷貝相鄰頁中數(shù)據(jù)的方式寫滿整個待測區(qū)域,直接比對首頁和尾頁的數(shù)據(jù),有效縮短比較器運算消耗的時間,提高檢測效率。 |





