一種用于IO自動(dòng)測(cè)試平臺(tái)的開關(guān)量輸出校驗(yàn)卡

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN201821962495.6 申請(qǐng)日 -
公開(公告)號(hào) CN209542778U 公開(公告)日 2019-10-25
申請(qǐng)公布號(hào) CN209542778U 申請(qǐng)公布日 2019-10-25
分類號(hào) G01R31/28(2006.01)I 分類 測(cè)量;測(cè)試;
發(fā)明人 石友旺; 蔣杰; 王維建 申請(qǐng)(專利權(quán))人 上海新華電子設(shè)備有限公司
代理機(jī)構(gòu) 上海旭誠知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 鄭立
地址 201100 上海市閔行區(qū)錦梅路1301號(hào)
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本實(shí)用新型公開了一種用于IO自動(dòng)測(cè)試平臺(tái)的開關(guān)量輸出校驗(yàn)卡,包括多通道開關(guān)量輸出模塊、FPGA、微處理器、電源模塊和通訊接口;多通道開關(guān)量輸出模塊的每一個(gè)通道輸出開關(guān)量校驗(yàn)信號(hào),實(shí)現(xiàn)對(duì)被測(cè)試電路的開關(guān)量輸入模塊進(jìn)行自動(dòng)同時(shí)校驗(yàn);FPGA用于和自動(dòng)測(cè)試平臺(tái)通訊,接收所需數(shù)據(jù)和狀態(tài)參數(shù),控制開關(guān)量輸出通道進(jìn)行同時(shí)校驗(yàn)以及與微處理器交換數(shù)據(jù);微處理器負(fù)責(zé)處理和控制,完成開關(guān)量信息的輸出。本實(shí)用新型可以實(shí)現(xiàn)對(duì)被測(cè)試電路的開關(guān)量輸入模塊進(jìn)行自動(dòng)同時(shí)檢測(cè),提高了測(cè)試的自動(dòng)化水平、工作效率和測(cè)試精度,降低了人工成本。