一種控制器老化測試裝置

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202022261161.X 申請日 -
公開(公告)號 CN213276363U 公開(公告)日 2021-05-25
申請公布號 CN213276363U 申請公布日 2021-05-25
分類號 G05B23/02(2006.01)I 分類 -
發(fā)明人 趙巖;杜佳棋;李開旭;孔春林;裘毅;丁澤坤;彭家鋒 申請(專利權(quán))人 杭州天明環(huán)保工程有限公司
代理機構(gòu) 北京集佳知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 徐麗
地址 310018浙江省杭州市經(jīng)濟技術(shù)開發(fā)區(qū)白楊街道11號(南)大街160號5幢
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本實用新型提供一種控制器老化測試裝置,包括控制箱和計算設(shè)備,所述控制箱、所述計算設(shè)備以及老化箱三者之間通訊連接;所述控制箱用以接收所述老化箱的控制器的驅(qū)動信號并將所述驅(qū)動信號轉(zhuǎn)換為電信號以判斷所述控制器是否正常運行,所述計算設(shè)備用以通過串口讀取所述控制器的各測試點的控制器信號及控制箱信號并比較所述控制器信號與所述控制箱信號的數(shù)值大小、以判斷各測點性能及發(fā)出報警。本申請可以精準地判斷出控制器各測點性能,測試過程受外部給定信號影響小,降低了極限高、低溫控制器的故障率,提高電源設(shè)備的運行可靠性,降低現(xiàn)場運維人員的工作量和維護成本。??