一種測試針壓接接觸式象限類光電探測器測試工裝

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202023209828.8 申請日 -
公開（公告）號 CN214224358U 公開（公告）日 2021-09-17
申請公布號 CN214224358U 申請公布日 2021-09-17
分類號 G01J1/42（2006.01）I;G01J1/04（2006.01）I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 錢煜;潘攀;周紅輪;周小燕;孔繁林;袁鎏;繆奇;路小龍 申請（專利權）人 西南技術物理研究所
代理機構 中國兵器工業(yè)集團公司專利中心 代理人 辛海明
地址 610041四川省成都市武侯區(qū)人民南路四段七號
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本實用新型涉及一種測試針壓接接觸式象限類光電探測器測試工裝，屬于光電探測器測試領域。本實用新型的底座設有若干個上部粗，下部細的臺階孔，中間設置通孔，底座兩側挖空，并各安裝一個不銹鋼連接桿，底座另外兩側有兩個安裝孔；頂座設有若干個上部細，下部粗的臺階孔，用于放置測試針和器件管腳，中間設置通孔，用于放置螺絲以便固定底座和頂座；壓板中間為一個圓孔，該圓孔直徑大于器件管帽直徑且小于器件最大外徑，用于壓接固定器件；兩側分別有一個可旋轉的側壁，側壁底部為鉤狀，用于鉤住底座的連接桿，使被測器件與測試針保持緊密連接。本實用新型對器件管腳精度要求不高，不易產生接觸不良，使用壽命長，上下器件方便。