一種用于元器件測(cè)試的高頻測(cè)試裝置

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN202120111813.3 申請(qǐng)日 -
公開(kāi)（公告）號(hào) CN214097577U 公開(kāi)（公告）日 2021-08-31
申請(qǐng)公布號(hào) CN214097577U 申請(qǐng)公布日 2021-08-31
分類號(hào) G01R1/04（2006.01）I;B07C5/344（2006.01）I 分類 測(cè)量；測(cè)試;
發(fā)明人 王洪洋;洪世勛 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 深圳飛特爾科技有限公司
代理機(jī)構(gòu) 北京孚睿灣知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所（普通合伙） 代理人 劉翠芹
地址 518102廣東省深圳市寶安區(qū)西鄉(xiāng)街道勞動(dòng)社區(qū)名優(yōu)采購(gòu)中心B座3區(qū)3層333室
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本實(shí)用新型提供一種用于元器件測(cè)試的高頻測(cè)試裝置，其包括測(cè)試板、固定件、微帶線以及金屬?gòu)椘潭殚L(zhǎng)方體結(jié)構(gòu)，固定件固定在測(cè)試板上，金屬?gòu)椘柚诠潭潭ㄔ跍y(cè)試板上形成金屬探測(cè)針，金屬?gòu)椘O(shè)置有兩個(gè)；兩個(gè)金屬?gòu)椘牡谝欢瞬拷柚诠潭潭ㄔ谖Ь€上，微帶線固定在測(cè)試板上，兩個(gè)金屬?gòu)椘牡诙€(gè)端部能夠相對(duì)于測(cè)試板壓下或彈起，與兩個(gè)金屬?gòu)椘牡诙瞬肯鄬?duì)于的測(cè)試板的位置固定有待測(cè)物品，當(dāng)兩個(gè)金屬?gòu)椘牡诙藟合聲r(shí)，兩個(gè)金屬?gòu)椘牡诙伺c待測(cè)物品接觸。其利用彈片結(jié)構(gòu)代替?zhèn)鹘y(tǒng)的導(dǎo)電膠結(jié)構(gòu)，具有較高的強(qiáng)度、耐受度和穩(wěn)定性，并且具有測(cè)試效果好，測(cè)試精度高的優(yōu)點(diǎn)。