固態(tài)硬盤的測(cè)試方法、裝置和系統(tǒng)

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN202110730766.5 申請(qǐng)日 -
公開(kāi)（公告）號(hào) CN113257334B 公開(kāi)（公告）日 2021-10-15
申請(qǐng)公布號(hào) CN113257334B 申請(qǐng)公布日 2021-10-15
分類號(hào) G11C29/56（2006.01）I 分類 信息存儲(chǔ);
發(fā)明人 朱琳琳;劉小波;梁燦 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 四川微巨芯科技有限公司
代理機(jī)構(gòu) 北京細(xì)軟智谷知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限責(zé)任公司 代理人 劉明華
地址 610000四川省成都市中國(guó)（四川）自由貿(mào)易試驗(yàn)區(qū)成都高新區(qū)天華二路219號(hào)11棟23層
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明涉及一種固態(tài)硬盤的測(cè)試方法、裝置和系統(tǒng)，方法包括：對(duì)預(yù)先配置的測(cè)試設(shè)備配置數(shù)據(jù)和測(cè)試用例配置數(shù)據(jù)進(jìn)行參數(shù)解析，得到測(cè)試設(shè)備信息和測(cè)試用例信息；對(duì)與測(cè)試設(shè)備相連的所有已連接硬盤初始化處理，得到待測(cè)試硬盤；生成每個(gè)待測(cè)試硬盤對(duì)應(yīng)的測(cè)試線程；利用測(cè)試用例信息中的所有測(cè)試用例，通過(guò)每個(gè)待測(cè)試硬盤對(duì)應(yīng)的測(cè)試線程對(duì)待測(cè)試硬盤進(jìn)行測(cè)試，得到測(cè)試用例與待測(cè)試硬盤的測(cè)試關(guān)系信息和每個(gè)測(cè)試用例對(duì)應(yīng)的測(cè)試執(zhí)行信息，從而生成每個(gè)待測(cè)試硬盤對(duì)應(yīng)的測(cè)試報(bào)告。本方案每個(gè)測(cè)試設(shè)備可連接多個(gè)待測(cè)試硬盤，每個(gè)待測(cè)試硬盤均設(shè)有對(duì)應(yīng)的測(cè)試線程，各個(gè)待測(cè)試硬盤可利用各自的測(cè)試線程同時(shí)測(cè)試，節(jié)約測(cè)試成本，提高固態(tài)硬盤的測(cè)試效率。