電芯頂側(cè)封封裝質(zhì)量檢測(cè)方法、電子設(shè)備及存儲(chǔ)介質(zhì)

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN202110943078.7 申請(qǐng)日 -
公開(kāi)（公告）號(hào) CN113390351B 公開(kāi)（公告）日 2021-12-14
申請(qǐng)公布號(hào) CN113390351B 申請(qǐng)公布日 2021-12-14
分類號(hào) G01B11/02（2006.01）I;G01B11/03（2006.01）I;G01N21/88（2006.01）I;G06T7/00（2017.01）I;G06T7/13（2017.01）I;G06T7/136（2017.01）I 分類 測(cè)量；測(cè)試;
發(fā)明人 不公告發(fā)明人 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 蘇州高視半導(dǎo)體技術(shù)有限公司
代理機(jī)構(gòu) 惠州市超越知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所（普通合伙） 代理人 陳文福
地址 215163江蘇省蘇州市高新區(qū)嘉陵江路198號(hào)11幢9層903室、904室
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本申請(qǐng)是關(guān)于一種電芯頂側(cè)封封裝質(zhì)量檢測(cè)方法。該方法包括：獲取待測(cè)電芯的極耳膠待測(cè)圖像以及頂封壓痕圖像，極耳膠待測(cè)圖像包含極耳膠，頂封壓痕圖像包含頂封壓痕；根據(jù)極耳膠待測(cè)圖像確定極耳膠的膠體高度以及膠體寬度；根據(jù)頂封壓痕圖像確定頂封壓痕的壓痕偏移量；分別將膠體高度、膠體寬度以及壓痕偏移量與對(duì)應(yīng)的封裝質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)范圍進(jìn)行匹配判斷；若膠體高度、膠體寬度以及壓痕偏移量均達(dá)到標(biāo)準(zhǔn)，則判定待測(cè)電芯為良品電芯。本申請(qǐng)?zhí)峁┑姆桨?，能夠針?duì)電芯的極耳膠以及頂封壓痕進(jìn)行封裝質(zhì)量視覺(jué)檢測(cè)，提高電芯的生產(chǎn)質(zhì)量，提升電芯的安全性。