低壓電器電觸頭超聲波無損檢測用測試塊及其組合和應(yīng)用
基本信息

| 申請?zhí)?/td> | CN201610035860.8 | 申請日 | - |
| 公開(公告)號 | CN105548371B | 公開(公告)日 | 2019-03-08 |
| 申請公布號 | CN105548371B | 申請公布日 | 2019-03-08 |
| 分類號 | G01N29/30(2006.01)I | 分類 | 測量;測試; |
| 發(fā)明人 | 張國方; 錢嘉錕; 肖東; 裘揆 | 申請(專利權(quán))人 | 上海和伍精密儀器股份有限公司 |
| 代理機(jī)構(gòu) | - | 代理人 | - |
| 地址 | 200240 上海市閔行區(qū)劍川路953弄322號一樓 | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要

| 摘要 | 本發(fā)明公開一種低壓電器電觸頭超聲波無損檢測用測試塊及其組合和應(yīng)用,所述測試塊由三部分組成:第一部分為凸字型部件,第二部分為圓環(huán)形密封部件,第三部分為密封蓋;所述圓環(huán)形密封部件安裝在所述凸字型部件底部,所述圓形密封蓋設(shè)置在所述凸字型部件頂部,所述圓環(huán)形密封部件位于所述凸字型部件、所述密封蓋之間;所述凸字型部件是指整體呈凸字型結(jié)構(gòu),凸字型的上下兩部分均是圓柱體或長方體;所述凸字型部件內(nèi)部均設(shè)有梯形孔。測試塊單獨(dú)使用其中任意一個測試塊或者多個測試塊任意組合。本發(fā)明可供檢測人員方便的使用于探頭、檢測設(shè)備的性能測試、靈敏度的調(diào)整,檢測特殊形狀工件時的調(diào)整以及測量范圍的調(diào)整等方面的工作。 |





