測試方法、裝置、電子設備及介質

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202111122812.X 申請日 -
公開（公告）號 CN113836021A 公開（公告）日 2021-12-24
申請公布號 CN113836021A 申請公布日 2021-12-24
分類號 G06F11/36（2006.01）I 分類 計算；推算；計數(shù);
發(fā)明人 張志文;郭文平 申請（專利權）人 昆侖芯（北京）科技有限公司
代理機構 北京市漢坤律師事務所 代理人 姜浩然;吳麗麗
地址 100086北京市海淀區(qū)上地十街10號百度大廈
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本公開提供了一種測試方法、裝置、電子設備及介質，涉及計算機技術領域，尤其涉及芯片領域。實現(xiàn)方案為：響應于測試數(shù)據(jù)集中包括多個具有相同的第一序列的第一測試數(shù)據(jù)，將多個第一測試數(shù)據(jù)中的每一個第一測試數(shù)據(jù)劃分為第一序列和除第一序列以外的第二序列；基于第一序列，利用第一測試系統(tǒng)執(zhí)行對待測試對象的測試以得到第一中間測試數(shù)據(jù)；以及針對多個第一測試數(shù)據(jù)中的每一個第一測試數(shù)據(jù)，基于第一中間測試數(shù)據(jù)和該第一測試數(shù)據(jù)的第二序列，利用第二測試系統(tǒng)執(zhí)行對待測試對象的測試以得到最終測試結果。