一種光學器件平面45度角度檢測裝置

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201821091134.9 申請日 -
公開（公告）號 CN208350334U 公開（公告）日 2019-01-08
申請公布號 CN208350334U 申請公布日 2019-01-08
分類號 G01M11/02 分類 測量；測試;
發(fā)明人 謝燕;萬祥;童嚴;時堯成;戴道鋅;劉勇 申請（專利權）人 蘇州天步光電技術有限公司
代理機構 - 代理人 -
地址 215500 江蘇省蘇州市常熟高新技術產業(yè)開發(fā)區(qū)匯金三路東東南會1號樓
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本實用新型公開了一種光學器件平面45度角度檢測裝置，包括裝置主體、激光光源、可調光源固定架、器件固定平臺、角度檢測區(qū)；所述激光光源為檢測輸入光，通過可調光源固定架來調整輸入光的水平位置；所述器件固定平臺與激光光源為垂直狀態(tài)；所述角度檢測區(qū)為反射光呈現(xiàn)區(qū)。本實用新型一種光學器件平面45度角度檢測裝置，可應用于光學器件在生產加工過程中的角度檢測，便于器件的后道耦合與封裝，提高光學器件耦合與封裝效率及良率，降低生產成本。