一種PLC芯片等級(jí)檢測方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202110893544.5 申請日 -
公開（公告）號(hào) CN113624783A 公開（公告）日 2021-11-09
申請公布號(hào) CN113624783A 申請公布日 2021-11-09
分類號(hào) G01N21/956（2006.01）I;G01N21/01（2006.01）I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 何祺昌;林棣棚 申請（專利權(quán)）人 安捷芯科技有限公司
代理機(jī)構(gòu) 廣東科信啟帆知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所（普通合伙） 代理人 吳少東
地址 528459廣東省中山市板芙鎮(zhèn)深灣村啟發(fā)南路26號(hào)（第1、2樓）
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本申請公開了一種PLC芯片等級(jí)檢測方法，檢測方法通過：首先獲取各個(gè)通道的最大插損光譜曲線CH00nMAX、最小插損光譜曲線CH00nMIN以及平均插損光譜曲線CH00nAVG，然后在對(duì)應(yīng)的光譜曲線中獲取PB IL測試數(shù)據(jù)、PDW測試數(shù)據(jù)、1dB BW測試數(shù)據(jù)、3dB BW測試數(shù)據(jù)、AX測試數(shù)據(jù)，比對(duì)各通道的PB IL測試數(shù)據(jù)、PDW測試數(shù)據(jù)、1dB BW測試數(shù)據(jù)、3dB BW測試數(shù)據(jù)、AX測試數(shù)據(jù)數(shù)值大小，選出PB IL比對(duì)數(shù)據(jù)、PDW比對(duì)數(shù)據(jù)、1dB BW比對(duì)數(shù)據(jù)、3dB BW比對(duì)數(shù)據(jù)、AX比對(duì)數(shù)據(jù)及計(jì)算出IL unif比對(duì)數(shù)據(jù)，將各芯片比對(duì)數(shù)據(jù)與等級(jí)對(duì)比數(shù)據(jù)表中的各對(duì)比數(shù)據(jù)數(shù)值進(jìn)行比對(duì)，從而判斷芯片的等級(jí)，由于各類型芯片均具有上述的測試數(shù)據(jù)，本檢測方法通用性強(qiáng)，避免出錯(cuò)。