存儲(chǔ)器修復(fù)測(cè)試方法及系統(tǒng)

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN202110682992.0 申請(qǐng)日 -
公開(kāi)（公告）號(hào) CN113380314A 公開(kāi)（公告）日 2021-09-10
申請(qǐng)公布號(hào) CN113380314A 申請(qǐng)公布日 2021-09-10
分類號(hào) G11C29/08（2006.01）I 分類 信息存儲(chǔ);
發(fā)明人 涂筱舒;董尚平;盧旭坤;袁俊 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 廣東利揚(yáng)芯片測(cè)試股份有限公司
代理機(jī)構(gòu) 廣州三環(huán)專利商標(biāo)代理有限公司 代理人 張艷美;趙貫杰
地址 523000廣東省東莞市萬(wàn)江街道莫屋新豐東二路2號(hào)
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開(kāi)了一種存儲(chǔ)器修復(fù)測(cè)試方法及系統(tǒng)，其中該方法包括如下步驟：生成一信息統(tǒng)計(jì)記錄表；通過(guò)測(cè)試向量對(duì)待測(cè)存儲(chǔ)器進(jìn)行數(shù)據(jù)分析和地址解析，以得到存儲(chǔ)器中失效存儲(chǔ)單元的地址信息和數(shù)據(jù)信息；將失效存儲(chǔ)單元的地址信息和對(duì)應(yīng)的數(shù)據(jù)信息錄入信息統(tǒng)計(jì)記錄表中；當(dāng)所有測(cè)試向量執(zhí)行完畢后，根據(jù)信息統(tǒng)計(jì)記錄表中記錄的信息對(duì)存儲(chǔ)器中失效存儲(chǔ)單元進(jìn)行修復(fù)處理；采用上述存儲(chǔ)器修復(fù)測(cè)試方法，在采用多段測(cè)試向量對(duì)存儲(chǔ)器進(jìn)行測(cè)試過(guò)程中，中間無(wú)須停頓，待所有測(cè)試向量執(zhí)行完畢后，統(tǒng)一有有序地對(duì)所有的失效存儲(chǔ)單元進(jìn)行修復(fù)處理，具有測(cè)試和修復(fù)處理效率高的優(yōu)點(diǎn)，有效節(jié)約測(cè)試時(shí)間。