絕緣子污穢測(cè)量測(cè)量方法

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN202110867229.5 申請(qǐng)日 -
公開(kāi)（公告）號(hào) CN113567816A 公開(kāi)（公告）日 2021-10-29
申請(qǐng)公布號(hào) CN113567816A 申請(qǐng)公布日 2021-10-29
分類號(hào) G01R31/12（2006.01）I 分類 測(cè)量；測(cè)試;
發(fā)明人 王遠(yuǎn)東;張志勁;陳遠(yuǎn)東;蔣興良;史文江;喬新涵;張海龍;趙振東;陳晶 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 國(guó)網(wǎng)內(nèi)蒙古東部電力有限公司檢修分公司
代理機(jī)構(gòu) 北京海虹嘉誠(chéng)知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 胡博文
地址 100031北京市西城區(qū)西長(zhǎng)安街86號(hào)
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明提供的一種絕緣子污穢測(cè)量測(cè)量方法，包括以下步驟：在待測(cè)目標(biāo)絕緣子所在輸電線路設(shè)置參考標(biāo)準(zhǔn)絕緣子，并測(cè)量參考標(biāo)準(zhǔn)絕緣子的表面灰密值；采集待測(cè)目標(biāo)絕緣子所處環(huán)境的環(huán)境參數(shù)，確定顆粒物濃度與粒徑關(guān)系；采用Comsol仿真軟件對(duì)待測(cè)目標(biāo)絕緣子和參考標(biāo)準(zhǔn)絕緣子的表面形狀建立有限元仿真模型，并將顆粒物濃度與粒徑關(guān)系輸入到有限元仿真模型中確定出污穢顆粒物總數(shù)目NDi,根據(jù)污穢顆粒物總數(shù)目計(jì)算待測(cè)目標(biāo)絕緣子的表面灰密值和參考標(biāo)準(zhǔn)絕緣子的表面灰密值，并確定出待測(cè)目標(biāo)絕緣子的積污系數(shù)k，確定目標(biāo)絕緣子最終表面灰密值NSDDmubiao，能夠?qū)旊娋€路的待測(cè)絕緣子的積污度進(jìn)行準(zhǔn)確測(cè)量。