一種無線二合一鼠標(biāo)端芯片的批量測(cè)試方法
基本信息

| 申請(qǐng)?zhí)?/td> | CN201410092315.3 | 申請(qǐng)日 | - |
| 公開(公告)號(hào) | CN103884979B | 公開(公告)日 | 2016-09-07 |
| 申請(qǐng)公布號(hào) | CN103884979B | 申請(qǐng)公布日 | 2016-09-07 |
| 分類號(hào) | G01R31/28(2006.01)I | 分類 | 測(cè)量;測(cè)試; |
| 發(fā)明人 | 譚一成 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人 | 無錫鏈接微電子有限公司 |
| 代理機(jī)構(gòu) | 無錫市大為專利商標(biāo)事務(wù)所(普通合伙) | 代理人 | 江蘇鉅芯集成電路技術(shù)股份有限公司;江蘇谷泰微電子有限公司 |
| 地址 | 214128 江蘇省無錫市新區(qū)震澤路18號(hào)無錫軟件園巨蟹座C幢一層 | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要

| 摘要 | 本發(fā)明公開了一種無線二合一鼠標(biāo)端芯片的批量測(cè)試方法,主要包括:給發(fā)射端的待測(cè)二合一芯片直接搭配模擬傳感器后,給待測(cè)二合一芯片上電;該模擬傳感器具有自定義的傳感器ID和版本號(hào);讀取與待測(cè)二合一芯片搭配的傳感器ID,根據(jù)該傳感器ID,對(duì)待測(cè)二合一芯片進(jìn)行測(cè)試。本發(fā)明所述無線二合一鼠標(biāo)端芯片的批量測(cè)試方法,可以克服現(xiàn)有技術(shù)中抗干擾能力弱、測(cè)試效率低和準(zhǔn)確性差等缺陷,以實(shí)現(xiàn)抗干擾能力強(qiáng)、測(cè)試效率高和準(zhǔn)確性好的優(yōu)點(diǎn)。 |





