半導體器件SEU翻轉(zhuǎn)概率的數(shù)值模擬方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201510102446.X 申請日 -
公開（公告）號 CN104731638B 公開（公告）日 2017-10-24
申請公布號 CN104731638B 申請公布日 2017-10-24
分類號 G06F9/455(2006.01)I 分類 計算；推算；計數(shù);
發(fā)明人 沈忱;貢頂;鄭麗桑;崔紹春 申請（專利權(quán)）人 蘇州珂晶達電子有限公司
代理機構(gòu) 南京經(jīng)緯專利商標代理有限公司 代理人 吳樹山
地址 215021 江蘇省蘇州市蘇州工業(yè)園區(qū)金雞湖大道1355號二期C102-1
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明涉及一種半導體器件SEU翻轉(zhuǎn)概率的數(shù)值模擬方法，本發(fā)明通過SEU替代模型把SEU問題中基本變量的維度高且離散問題轉(zhuǎn)化為一維較連續(xù)的問題，進而在此基礎上使用改進的MCMC子集抽樣方法模擬出SEU的小翻轉(zhuǎn)概率；且在子集抽樣方法的中間失效事件的閾值選擇上采用改進的自適應方法，減少中間失效事件的條件概率計算誤差，以利于能夠高效地得出半導體器件的SEU翻轉(zhuǎn)概率。本發(fā)明適用于半導體器件SEU數(shù)值模擬以及半導體器件小概率事件的數(shù)值模擬。