光學(xué)膜厚測試儀

基本信息

申請?zhí)?/td> CN200820141227.8 申請日 -
公開（公告）號 CN201318934Y 公開（公告）日 2009-09-30
申請公布號 CN201318934Y 申請公布日 2009-09-30
分類號 G01B11/06(2006.01)I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 魏楊;薛尚清;張博;謝亮 申請（專利權(quán)）人 四川南光電氣有限責(zé)任公司
代理機構(gòu) 成都立信專利事務(wù)所有限公司 代理人 四川南光電氣有限責(zé)任公司;成都南光機器有限公司
地址 610100四川省成都市成都經(jīng)濟技術(shù)開發(fā)區(qū)星光西路115號
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本實用新型為光學(xué)膜厚測試儀，解決已有膜厚測試儀使用調(diào)節(jié)不便，穩(wěn)定性差，精度差的問題。主輸入信號依次經(jīng)串聯(lián)的差分放大器、陷波器、主信號放大器、低通濾波器和偏置疊加器輸入模數(shù)轉(zhuǎn)換器、模數(shù)轉(zhuǎn)換器的輸出接邏輯可編程器件，參考輸入信號經(jīng)參考信號處理電路輸入邏輯可編程器件，邏輯可編程器件的輸出與單片機連接，單片機與顯示器連接。