X射線CT檢測(cè)裝置及檢測(cè)方法

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN202110977657.3 申請(qǐng)日 -
公開（公告）號(hào) CN114295650A 公開（公告）日 2022-04-08
申請(qǐng)公布號(hào) CN114295650A 申請(qǐng)公布日 2022-04-08
分類號(hào) G01N23/046（2018.01）I;G06T7/00（2017.01）I 分類 測(cè)量；測(cè)試;
發(fā)明人 唐志宏;鄭劍杰;馬剛 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 上海超群檢測(cè)科技股份有限公司
代理機(jī)構(gòu) 上海云滬專利代理事務(wù)所（普通合伙） 代理人 鄭義紅
地址 200000上海市松江區(qū)九亭鎮(zhèn)淶坊路北側(cè)C-1地塊
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開了X射線CT檢測(cè)裝置及X射線CT檢測(cè)方法。CT檢測(cè)裝置包括置物臺(tái)運(yùn)動(dòng)系統(tǒng)，位于置物臺(tái)運(yùn)動(dòng)系統(tǒng)上方的X射線傳感器運(yùn)動(dòng)系統(tǒng)，下方的X射線源運(yùn)動(dòng)系統(tǒng)，以及用于提供驅(qū)動(dòng)X射線傳感器與X射線源同步運(yùn)動(dòng)的傳動(dòng)系統(tǒng)；通過圖像重建及顯示單元對(duì)采集到的圖像進(jìn)行算法重建并顯示重建結(jié)果，本發(fā)明可以實(shí)現(xiàn)對(duì)被檢物目標(biāo)區(qū)域選擇、放大率調(diào)整及掃描檢測(cè)響應(yīng)速度大大加快。CT檢測(cè)方法主要為X射線傳感器面中心與X射線源焦點(diǎn)的連線，穿過被檢物體，且X射線傳感器與X射線源按預(yù)定圓周軌跡旋轉(zhuǎn)時(shí)，間隔一定角度，采集一定數(shù)量圖像，在此過程中X射線傳感器面中心與焦點(diǎn)連線始終穿過被檢物體。