一種紅外裸數(shù)據(jù)校正方法、設(shè)備及介質(zhì)

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN202011343651.2 申請(qǐng)日 -
公開(kāi)（公告）號(hào) CN112559945A 公開(kāi)（公告）日 2021-03-26
申請(qǐng)公布號(hào) CN112559945A 申請(qǐng)公布日 2021-03-26
分類號(hào) G06F17/10(2006.01)I 分類 計(jì)算；推算；計(jì)數(shù);
發(fā)明人 吳偉林;梁廷;梁志海 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 廣州紫川電子科技有限公司
代理機(jī)構(gòu) 廣州市越秀區(qū)哲力專利商標(biāo)事務(wù)所（普通合伙） 代理人 王忠浩
地址 511400廣東省廣州市南沙區(qū)黃閣鎮(zhèn)翠瑜街13號(hào)彩匯中心的地上第8層的02、03單元(僅限辦公)
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明提供一種紅外裸數(shù)據(jù)校正方法，包括獲取紅外探測(cè)器采集目標(biāo)物體產(chǎn)生的紅外裸數(shù)據(jù)以及對(duì)應(yīng)的數(shù)據(jù)分辨率；隨機(jī)從紅外裸數(shù)據(jù)中取出未計(jì)算的一幀子數(shù)據(jù)作為修正子數(shù)據(jù)，根數(shù)據(jù)分辨率計(jì)算得到修正子數(shù)據(jù)對(duì)應(yīng)的修正半徑；根據(jù)中心點(diǎn)對(duì)應(yīng)的光圈點(diǎn)信息、參考點(diǎn)對(duì)應(yīng)的光圈點(diǎn)信息以及修正半徑計(jì)算得到與參考點(diǎn)對(duì)應(yīng)的參考點(diǎn)修正系數(shù)，返回執(zhí)行步驟計(jì)算修正半徑，直至取出預(yù)設(shè)幀數(shù)的子數(shù)據(jù)；計(jì)算出所有參考點(diǎn)修正系數(shù)對(duì)應(yīng)的平均修正系數(shù)；根據(jù)平均修正系數(shù)遍歷紅外裸數(shù)據(jù)中每個(gè)光圈點(diǎn)，得到已校正紅外裸數(shù)據(jù)。本發(fā)明的一種紅外裸數(shù)據(jù)校正方法，使紅外裸數(shù)據(jù)中每幀子數(shù)據(jù)中的四邊數(shù)據(jù)與中心數(shù)據(jù)分布均勻，不再出現(xiàn)光圈，提高了測(cè)溫的精準(zhǔn)性。??