飛行時間質量分析器

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202111198558.1 申請日 -
公開（公告）號 CN114171367A 公開（公告）日 2022-03-11
申請公布號 CN114171367A 申請公布日 2022-03-11
分類號 H01J49/02（2006.01）I;H01J49/40（2006.01）I 分類 基本電氣元件;
發(fā)明人 于丙文;俞曉峰;徐岳;吳智威;李銳;韓雙來 申請（專利權）人 聚光科技（杭州）股份有限公司
代理機構 - 代理人 -
地址 311305浙江省杭州市臨安區(qū)青山湖街道科技大道2466-1號
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明提供了飛行時間質量分析器，所述飛行時間質量分析器包括推斥極、無場飛行區(qū)和檢測器，所述無場飛行區(qū)包括第一入射柵網；所述飛行時間質量分析器還包括：牽引電極和所述第一入射柵網間形成第一離子加速區(qū)；第一柵網和第二柵網間電勢差為零；所述推斥極和第一柵網間，以及第二柵網和牽引電極間形成第二離子加速區(qū)；離子依次穿過第一柵網、第二柵網、牽引電極、第一入射柵網和無場飛行區(qū)，被所述檢測器接收。本發(fā)明具有分辨率高等優(yōu)點。