一種用于MCU芯片的全自動測試系統(tǒng)

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201910512684.6 申請日 -
公開（公告）號 CN110275805A 公開（公告）日 2019-09-24
申請公布號 CN110275805A 申請公布日 2019-09-24
分類號 G06F11/22;G06F11/273 分類 計算；推算；計數(shù);
發(fā)明人 鄧建;秦嶺 申請（專利權(quán)）人 上海琪埔維半導(dǎo)體有限公司
代理機構(gòu) 上海申新律師事務(wù)所 代理人 上海琪埔維半導(dǎo)體有限公司
地址 200120 上海市浦東新區(qū)中國(上海)自由貿(mào)易試驗區(qū)盛夏路570號603室
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明涉及集成電路技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種用于MCU芯片的全自動測試系統(tǒng)，包括：計算機；外供直流電源，外供直流電源為測試主板提供電源電壓；測試主板分別連接計算機與外供直流電源，測試主板包括：主控芯片，主控芯片用于控制測試系統(tǒng)的自動化執(zhí)行；被測MCU芯片，被測MCU芯片接收主控芯片的調(diào)度，并配合執(zhí)行測試系統(tǒng)的復(fù)數(shù)個測試項；復(fù)數(shù)個執(zhí)行測試單元，分別連接于主控芯片與被測MCU芯片之間，復(fù)數(shù)個執(zhí)行測試單元用于分別測試復(fù)數(shù)個測試項，并由主控芯片將對應(yīng)的測試數(shù)據(jù)存儲至計算機。有益效果：通過采用硬件設(shè)計與軟件控制的結(jié)合方式，啟動測試后軟件自動執(zhí)行完成所有的測試，測試過程中不需要人工參與，節(jié)省了人力和時間，提高了工作效率。