一種用于半導(dǎo)體分立器件的綜合老化試驗箱
基本信息
| 申請?zhí)?/td> | CN202011073978.2 | 申請日 | - |
| 公開（公告）號 | CN112379237A | 公開（公告）日 | 2021-02-19 |
| 申請公布號 | CN112379237A | 申請公布日 | 2021-02-19 |
| 分類號 | G01R31/26(2014.01)I; | 分類 | 測量；測試; |
| 發(fā)明人 | 謝斌;史建軍 | 申請（專利權(quán)）人 | 安徽晶谷周界微電子股份有限公司 |
| 代理機(jī)構(gòu) | 合肥廣源知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所（普通合伙） | 代理人 | 汪綱 |
| 地址 | 233000安徽省蚌埠市財院路10號106號樓 | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要
| 摘要 | 本發(fā)明涉及分立器件老化試驗技術(shù)領(lǐng)域，具體涉及一種用于半導(dǎo)體分立器件的綜合老化試驗箱，包括試驗箱底臺，試驗箱底臺的底端面通過螺栓固定有若干個可調(diào)腳，試驗箱底臺的上端固定有老化試驗箱本體，老化試驗箱本體包括上箱體和下箱體，上箱體的內(nèi)部設(shè)有控制室及兩個第一腔體，控制室的內(nèi)部安裝有控制箱，且其前端安裝有固定門板，固定門板的正面設(shè)置有顯示屏、工作狀態(tài)指示區(qū)及控制按鍵區(qū)，兩個第一腔體的前端均通過鉸鏈安裝有上密封門；下箱體的內(nèi)部開設(shè)有兩個第二腔體，且兩個第二腔體的前端均通過鉸鏈安裝有下密封門；本發(fā)明可帶動老化座做順時針及逆時針往復(fù)轉(zhuǎn)動，從而使得半導(dǎo)體分立器件受熱更加均勻，得到的老化試驗數(shù)據(jù)也更加精確。?? |
