與電化學發(fā)光同時測量的超分辨電化學成像測量裝置

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201610139696.5 申請日 -
公開（公告）號 CN107192858A 公開（公告）日 2017-09-22
申請公布號 CN107192858A 申請公布日 2017-09-22
分類號 G01Q60/60(2010.01)I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 牛利;韓冬雪;王偉 申請（專利權(quán)）人 江蘇卓芯電子科技有限公司
代理機構(gòu) - 代理人 -
地址 江蘇省南通市高新區(qū)世紀大道998號
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明提供一種新型的與電化學發(fā)光同時測量的超分辨電化學成像測量裝置，示意圖如圖1所示。由計算機1、雙恒電位儀2、壓電晶體控制器3、三維壓電晶體4、光電倍增管檢測系統(tǒng)5、光電倍增管檢測器6、檢測池7、探針8、參比電極9、對電極10和被測基底樣品11組成。其中探針8、參比電極9、對電極10和被測基底樣品11組成四電極檢測系統(tǒng)。雙恒電位儀2用于在探針8和被測基底樣品11之間施加電化學激勵信號，光電倍增管檢測器6檢測電化學發(fā)光信號的同時雙恒電位儀2檢測探針8上的電流信號，結(jié)合三維壓電晶體4納米級別的位移分辨率來實現(xiàn)超高分辨率的電化學發(fā)光信號成像檢測和電化學電流信號成像檢測。該成像系統(tǒng)的成像分辨率取決于探針電極的尺度及探針的空間位移分辨率，因此可以突破以往光學成像分辨率的限制，實現(xiàn)納米級別的成像分辨率。