與電化學(xué)發(fā)光同時(shí)測(cè)量的超分辨電化學(xué)成像測(cè)量裝置
基本信息
| 申請(qǐng)?zhí)?/td> | CN201610139696.5 | 申請(qǐng)日 | - |
| 公開（公告）號(hào) | CN107192858A | 公開（公告）日 | 2017-09-22 |
| 申請(qǐng)公布號(hào) | CN107192858A | 申請(qǐng)公布日 | 2017-09-22 |
| 分類號(hào) | G01Q60/60(2010.01)I | 分類 | 測(cè)量；測(cè)試; |
| 發(fā)明人 | 牛利;韓冬雪;王偉 | 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 | 江蘇卓芯電子科技有限公司 |
| 代理機(jī)構(gòu) | - | 代理人 | - |
| 地址 | 江蘇省南通市高新區(qū)世紀(jì)大道998號(hào) | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要
| 摘要 | 本發(fā)明提供一種新型的與電化學(xué)發(fā)光同時(shí)測(cè)量的超分辨電化學(xué)成像測(cè)量裝置，示意圖如圖1所示。由計(jì)算機(jī)1、雙恒電位儀2、壓電晶體控制器3、三維壓電晶體4、光電倍增管檢測(cè)系統(tǒng)5、光電倍增管檢測(cè)器6、檢測(cè)池7、探針8、參比電極9、對(duì)電極10和被測(cè)基底樣品11組成。其中探針8、參比電極9、對(duì)電極10和被測(cè)基底樣品11組成四電極檢測(cè)系統(tǒng)。雙恒電位儀2用于在探針8和被測(cè)基底樣品11之間施加電化學(xué)激勵(lì)信號(hào)，光電倍增管檢測(cè)器6檢測(cè)電化學(xué)發(fā)光信號(hào)的同時(shí)雙恒電位儀2檢測(cè)探針8上的電流信號(hào)，結(jié)合三維壓電晶體4納米級(jí)別的位移分辨率來實(shí)現(xiàn)超高分辨率的電化學(xué)發(fā)光信號(hào)成像檢測(cè)和電化學(xué)電流信號(hào)成像檢測(cè)。該成像系統(tǒng)的成像分辨率取決于探針電極的尺度及探針的空間位移分辨率，因此可以突破以往光學(xué)成像分辨率的限制，實(shí)現(xiàn)納米級(jí)別的成像分辨率。 |
