一種光子計(jì)數(shù)探測(cè)器陣列及其成像方法

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN201510543632.7 申請(qǐng)日 -
公開（公告）號(hào) CN106483548B 公開（公告）日 2019-07-26
申請(qǐng)公布號(hào) CN106483548B 申請(qǐng)公布日 2019-07-26
分類號(hào) G01T1/16（2006.01）I 分類 測(cè)量；測(cè)試;
發(fā)明人 羅杰; 康小維; 崔志立; 李運(yùn)祥; 曹紅光 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 成都善思微科技有限公司
代理機(jī)構(gòu) 北京汲智翼成知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所（普通合伙） 代理人 北京納米維景科技有限公司;成都善思微科技有限公司
地址 100094 北京市海淀區(qū)永澄北路2號(hào)院1號(hào)樓A座303
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明提供了一種光子計(jì)數(shù)探測(cè)器陣列及其成像方法。其中，光子計(jì)數(shù)探測(cè)器陣列包括多個(gè)探測(cè)器模組，每個(gè)探測(cè)器模組由兩個(gè)或多個(gè)光子計(jì)數(shù)探測(cè)器單元組成；多個(gè)探測(cè)器模組在一個(gè)平面內(nèi)排列成一個(gè)探測(cè)器矩陣；其中，在探測(cè)器矩陣中，多個(gè)光子計(jì)數(shù)探測(cè)器單元在每列等間距排列并在相鄰兩列錯(cuò)位排列；或者，多個(gè)光子計(jì)數(shù)探測(cè)器單元在每行等間距排列并在相鄰兩行錯(cuò)位排列。通過平移或旋轉(zhuǎn)上述光子計(jì)數(shù)探測(cè)器陣列，獲得兩幅錯(cuò)開互補(bǔ)的網(wǎng)狀圖像；然后將兩幅網(wǎng)狀圖像拼接，可以獲得有效成像區(qū)域的平面無縫拼接圖像。本發(fā)明基于三面可拼接光子計(jì)數(shù)探測(cè)器單元形成用于獲取平面無縫拼接圖像的光子計(jì)數(shù)探測(cè)器陣列，簡(jiǎn)化了系統(tǒng)設(shè)計(jì)復(fù)雜度，并減小了系統(tǒng)成本。