平板探測(cè)器及其輻射成像系統(tǒng)

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN201821209119.X 申請(qǐng)日 -
公開(kāi)（公告）號(hào) CN208537452U 公開(kāi)（公告）日 2019-02-22
申請(qǐng)公布號(hào) CN208537452U 申請(qǐng)公布日 2019-02-22
分類號(hào) G01N23/04;H01L27/146 分類 測(cè)量；測(cè)試;
發(fā)明人 崔志立;羅杰;李運(yùn)祥 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 成都善思微科技有限公司
代理機(jī)構(gòu) 北京汲智翼成知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所（普通合伙） 代理人 北京納米維景科技有限公司;成都善思微科技有限公司
地址 100094 北京市海淀區(qū)北清路68號(hào)院用友產(chǎn)業(yè)園西區(qū)1號(hào)樓一層1-06
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本實(shí)用新型公開(kāi)了一種平板探測(cè)器，同時(shí)也公開(kāi)了包括該平板探測(cè)器的輻射成像系統(tǒng)。該平板探測(cè)器包括閃爍體、CMOS圖像傳感器、信號(hào)處理模塊；其中，閃爍體接收輻射源產(chǎn)生的X射線，轉(zhuǎn)換為可見(jiàn)光；可見(jiàn)光由CMOS圖像傳感器轉(zhuǎn)換為電信號(hào)，信號(hào)處理模塊采集電信號(hào)并進(jìn)行圖像信號(hào)處理。本實(shí)用新型所提供的平板探測(cè)器及其輻射成像系統(tǒng)采用CMOS工藝實(shí)現(xiàn)，具有所需X射線劑量低、數(shù)據(jù)動(dòng)態(tài)范圍大、幀速率快及空間分辨率高等諸多優(yōu)點(diǎn)，可以應(yīng)用在醫(yī)療影像、工業(yè)無(wú)損檢測(cè)等領(lǐng)域。