二維表層模型構建方法及獲得二維測線控制點的方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201711124865.9 申請日 -
公開（公告）號 CN107894614B 公開（公告）日 2020-02-14
申請公布號 CN107894614B 申請公布日 2020-02-14
分類號 G01V1/28 分類 測量；測試;
發(fā)明人 耿春;李亞林;敬龍江;羅文;黃衛(wèi)華;孫偉鵬;田祥平;黎書琴;蔡力 申請（專利權）人 中國石油集團川慶鉆探工程有限公司地球物理勘探公司
代理機構 成都中璽知識產(chǎn)權代理有限公司 代理人 中國石油集團川慶鉆探工程有限公司;中國石油天然氣集團公司;中國石油集團川慶鉆探工程有限公司地球物理勘探公司;中國石油天然氣集團有限公司;中國石油集團東方地球物理勘探有限責任公司
地址 610213 四川省成都市雙流縣華陽鎮(zhèn)華陽大道一段一號1-4
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明提供一種二維表層模型構建方法及獲得二維測線控制點的方法。所述模型構建方法包括：求取二維測線網(wǎng)中第一、二測線的控制點；利用控制點建模，得二維表層模型。求取控制點的步驟包括：對第一、二測線分別進行拐點搜索處理，得第一、二測線拐點；利用第一、二測線拐點，得第一、二測線的交點；分別求取第一、二測線上所述交點的成果，進行平均處理，得第一測線與第二測線共用的交點成果，作為控制點。本發(fā)明能夠根據(jù)測線拐點，快速、準確計算二維測線的交點，為表層模型的統(tǒng)一構建打下基礎；計算精度高，且計算效率比傳統(tǒng)方法具有顯著的提高；能夠實現(xiàn)交點處的模型閉合，滿足二維表層模型精確建模的需求。