上置式極坐標調(diào)節(jié)裝置
基本信息

| 申請?zhí)?/td> | CN201410528902.2 | 申請日 | - |
| 公開(公告)號 | CN104299883B | 公開(公告)日 | 2017-08-22 |
| 申請公布號 | CN104299883B | 申請公布日 | 2017-08-22 |
| 分類號 | H01J49/04(2006.01)I | 分類 | 基本電氣元件; |
| 發(fā)明人 | 董曉峰;陳煥文;王姜;顧海巍 | 申請(專利權(quán))人 | 江西正譜奕和科技有限公司 |
| 代理機構(gòu) | 北京尚誠知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 | 代理人 | 東華理工大學;江西正譜奕和科技有限公司 |
| 地址 | 344000 江西省撫州市學府路56號 | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要

| 摘要 | 本發(fā)明公開一種用于表面解吸常壓化學電離源的調(diào)節(jié)裝置,包括安裝接口、Y向平移調(diào)節(jié)模塊、Z向平移調(diào)節(jié)模塊、A軸角度調(diào)節(jié)模塊、離子源噴頭、綜合接口、進樣Z向自動調(diào)節(jié)模塊、進樣X向自動進給模塊與進樣Y向手動調(diào)節(jié)模塊。該裝置可精確定量調(diào)節(jié)離子源噴頭與質(zhì)譜儀進樣口的角度α、離子源噴頭與質(zhì)譜儀進樣口的Z向距離a1、離子源噴頭與質(zhì)譜儀進樣口的Y向距離b1、樣品臺與質(zhì)譜儀進樣口的Z向距離a2、樣品臺與質(zhì)譜儀進樣口的Y向距離b2。該裝置適用于研究與優(yōu)化配置離子源噴頭、樣品臺與質(zhì)譜儀進樣口之間的空間位置參數(shù)與信號強度的關(guān)系,特別適用于快速批量檢測固體樣品以及對連續(xù)分布的樣品進行質(zhì)譜成像。 |





