一種通用的芯片測試系統(tǒng)、測試方法及存儲介質(zhì)

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202010414915.2 申請日 -
公開（公告）號 CN111487524B 公開（公告）日 2022-03-11
申請公布號 CN111487524B 申請公布日 2022-03-11
分類號 G01R31/28（2006.01）I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 程景全;宿曉鋒;郭婷;武建宏 申請（專利權(quán)）人 上海華力微電子有限公司
代理機構(gòu) 上海思微知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所（普通合伙） 代理人 曹廷廷
地址 201315上海市浦東新區(qū)良騰路6號
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明提供了一種通用的芯片測試系統(tǒng)、測試方法及存儲介質(zhì)。芯片測試系統(tǒng)包括主控裝置、測試主板、N個子板連接件，若干個測試子板以及若干個測試套件。測試主板與主控裝置、測試套件及測試子板連接；測試子板和測試套件匹配，測試子板和測試主板通過子板連接件連接。本發(fā)明提供的一種通用的芯片測試系統(tǒng)能夠快速準確地對芯片設(shè)計前后的功能和性能進行驗證測試，可以滿足芯片制造前的功能驗證、性能測試、可靠性測試的測試任務(wù)，而且該系統(tǒng)為模塊化設(shè)計可擴展性強、能夠?qū)崿F(xiàn)測試自動化。