一種ADC-T2二維圖譜的測量方法、裝置、計算機設備及非均勻場磁共振系統(tǒng)

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202011241126.X 申請日 -
公開（公告）號 CN112415454B 公開（公告）日 2021-08-03
申請公布號 CN112415454B 申請公布日 2021-08-03
分類號 G01R33/54（2006.01）I;G01R33/50（2006.01）I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 張潔瑩;潘子異;王偉謙;吳子岳;葉洋 申請（專利權）人 無錫鳴石峻致醫(yī)療科技有限公司
代理機構 成都頂峰專利事務所（普通合伙） 代理人 楊國瑞
地址 214000江蘇省無錫市新吳區(qū)弘毅路8號金帛座705室
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明涉及核磁共振成像技術領域，公開了一種ADC?T2二維圖譜的測量方法、裝置、計算機設備及非均勻場磁共振系統(tǒng)，可以在具有極不均勻的磁場或者是無法實現(xiàn)極短的回波時間的核磁共振系統(tǒng)中，通過獲取的多個采用不同回波間隔的CPMG序列采集的回波信號，從多組回波信號中擬合出ADC系數(shù)和T2值，從而能測量出ADC?T2圖譜，使得不再需要復雜的擴散加權序列，具有算法簡單且對系統(tǒng)要求低的優(yōu)點，可以降低對對譜儀設備、射頻功放和射頻線圈等硬件系統(tǒng)的成本。同時所述測量方法還具有算法穩(wěn)定的特點，不易受流動液體影響，對于T1/T2較小的物質(zhì)同樣適用。