一種橫向磁化矢量衰減時(shí)間常數(shù)的校正測(cè)量方法、裝置、計(jì)算機(jī)設(shè)備及非均勻場(chǎng)磁共振系統(tǒng)
基本信息
| 申請(qǐng)?zhí)?/td> | CN202011242388.8 | 申請(qǐng)日 | - |
| 公開(kāi)（公告）號(hào) | CN112462311B | 公開(kāi)（公告）日 | 2021-06-15 |
| 申請(qǐng)公布號(hào) | CN112462311B | 申請(qǐng)公布日 | 2021-06-15 |
| 分類(lèi)號(hào) | G01R33/46（2006.01）I;G01R33/48（2006.01）I;G01R33/56（2006.01）I | 分類(lèi) | 測(cè)量；測(cè)試; |
| 發(fā)明人 | 潘子異;張潔瑩;王偉謙;吳子岳;葉洋 | 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 | 無(wú)錫鳴石峻致醫(yī)療科技有限公司 |
| 代理機(jī)構(gòu) | 成都頂峰專利事務(wù)所（普通合伙） | 代理人 | 楊國(guó)瑞 |
| 地址 | 214000江蘇省無(wú)錫市新吳區(qū)弘毅路8號(hào)金帛座705室 | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要
| 摘要 | 本發(fā)明涉及核磁共振成像技術(shù)領(lǐng)域，公開(kāi)了一種橫向磁化矢量衰減時(shí)間常數(shù)的校正測(cè)量方法、裝置、計(jì)算機(jī)設(shè)備及非均勻場(chǎng)磁共振系統(tǒng)，可以在具有極不均勻的磁場(chǎng)或者是無(wú)法實(shí)現(xiàn)極短的回波時(shí)間的核磁共振系統(tǒng)中，通過(guò)獲取的多個(gè)施加不同b值的SE?CPMG序列采集的回波信號(hào)，先擬合出ADC?T2二維圖譜，然后對(duì)橫向磁化矢量衰減時(shí)間常數(shù)T2做校正，如此可避免由于擴(kuò)散造成的T2測(cè)量值偏小問(wèn)題。此外，可進(jìn)一步基于校正的T2測(cè)量值獲得較為準(zhǔn)確的ADC?T2二維圖譜，確保T2值測(cè)量不受回波時(shí)間和分子擴(kuò)散的影響，且對(duì)系統(tǒng)要求低，可以降低系統(tǒng)成本。 |
