一種基于非均勻場磁共振系統(tǒng)的表觀擴(kuò)散系數(shù)測量方法
基本信息
| 申請?zhí)?/td> | CN202010187915.3 | 申請日 | - |
| 公開（公告）號(hào) | CN111351813B | 公開（公告）日 | 2021-09-24 |
| 申請公布號(hào) | CN111351813B | 申請公布日 | 2021-09-24 |
| 分類號(hào) | G01N24/08;G01N13/00 | 分類 | 測量；測試; |
| 發(fā)明人 | 吳子岳;羅海;陳瀟;葉洋 | 申請（專利權(quán)）人 | 無錫鳴石峻致醫(yī)療科技有限公司 |
| 代理機(jī)構(gòu) | 成都高遠(yuǎn)知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所（普通合伙） | 代理人 | 李安霞;李佳龍 |
| 地址 | 214000 江蘇省無錫市新吳區(qū)弘毅路8號(hào)金帛座705室 | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要
| 摘要 | 本發(fā)明公開一種基于非均勻場磁共振系統(tǒng)的表觀擴(kuò)散系數(shù)測量方法，基于一個(gè)非均勻場核磁共振系統(tǒng)，包括非均勻場磁體，核磁共振譜儀，射頻功放和射頻線圈等，通過多個(gè)具有不同回波間隔的CPMG序列采集信號(hào)，從多組信號(hào)中擬合出ADC系數(shù)。該方法不需要復(fù)雜的擴(kuò)散加強(qiáng)序列，算法簡單，且對系統(tǒng)要求低，可以降低系統(tǒng)成本。同時(shí)，本發(fā)明方法算法穩(wěn)定，不易受流動(dòng)液體影響，對于T1/T2較小的物質(zhì)同樣適用。 |
