GaN基探測器
基本信息

| 申請?zhí)?/td> | CN202011296081.6 | 申請日 | - |
| 公開(公告)號 | CN112420856A | 公開(公告)日 | 2021-02-26 |
| 申請公布號 | CN112420856A | 申請公布日 | 2021-02-26 |
| 分類號 | H01L31/0224(2006.01)I;H01L31/0236(2006.01)I;H01L31/105(2006.01)I;H01L31/0216(2014.01)I | 分類 | 基本電氣元件; |
| 發(fā)明人 | 楊天鵬;康建;鄭遠(yuǎn)志;陳向東 | 申請(專利權(quán))人 | 馬鞍山杰生半導(dǎo)體有限公司 |
| 代理機構(gòu) | 北京華智則銘知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 | 代理人 | 沈抗勇 |
| 地址 | 243000安徽省馬鞍山市經(jīng)濟技術(shù)開發(fā)區(qū)寶慶路399號1棟 | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要

| 摘要 | 本發(fā)明涉及探測器技術(shù)領(lǐng)域,且公開了GaN基探測器,包括襯底、GaN緩沖層、n型歐姆層、本征型GaN有源層和p型歐姆層,所述襯底、GaN緩沖層、n型歐姆層、本征型GaN有源層和p型歐姆層從下至上依次連接設(shè)置,所述n型歐姆層上設(shè)置有n型接觸層,所述p型歐姆層上設(shè)置有p型接觸層,所述n型歐姆層、本征型GaN有源層和p型歐姆層外覆蓋有一層鈍化層,所述本征型GaN有源層和p型歐姆層為錐臺形結(jié)構(gòu)。本發(fā)明增強了歐姆接觸性能,保證了探測器的穩(wěn)定性和響應(yīng)速度。?? |





