一種電子元器件外觀自動檢測設(shè)備

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201811019964.5 申請日 -
公開（公告）號 CN110873716A 公開（公告）日 2020-03-10
申請公布號 CN110873716A 申請公布日 2020-03-10
分類號 G01N21/88;G01N21/01 分類 測量；測試;
發(fā)明人 張晉勇 申請（專利權(quán)）人 法視特（上海）圖像科技有限公司
代理機構(gòu) 上海宏京知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所（普通合伙） 代理人 鄧文武
地址 200127 上海市浦東新區(qū)中國（上海）自由貿(mào)易試驗區(qū)峨山路77號甲幢101ABCD室
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開一種電子元器件外觀自動檢測設(shè)備，包括CCD影像設(shè)備，傳送裝置，光電感應(yīng)裝置，檢測平臺，遮光箱，分物托盤；所述傳送裝置包括傳送帶，位于遮光箱兩側(cè)的機械手；所述機械手設(shè)置微型橡膠吸盤；所述CCD影像設(shè)備包括圖像獲取設(shè)備；圖像處理設(shè)備，圖像輸出設(shè)備；所述圖像輸出設(shè)備控制所述分物托盤和所述傳送帶；所述檢測平臺包括托物臺，連接桿，水平行程氣缸，豎直行程氣缸和旋轉(zhuǎn)電機。本發(fā)明可以識別到尺寸小的缺陷，檢測速度快，數(shù)據(jù)存儲查詢方便，設(shè)備自動化程度高，快捷高效。