一種基于三維數(shù)據(jù)的分塊擬合缺陷檢測(cè)方法

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN202110129353.1 申請(qǐng)日 -
公開(公告)號(hào) CN113008895A 公開(公告)日 2021-06-22
申請(qǐng)公布號(hào) CN113008895A 申請(qǐng)公布日 2021-06-22
分類號(hào) G01N21/88 分類 測(cè)量;測(cè)試;
發(fā)明人 徐洪浩;習(xí)勇;張家業(yè) 申請(qǐng)(專利權(quán))人 廣州信邦智能裝備股份有限公司
代理機(jī)構(gòu) 深圳深瑞知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 晁陽(yáng)飛
地址 510800 廣東省廣州市花都區(qū)汽車城車城大道北側(cè)
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開了一種基于三維數(shù)據(jù)的分塊擬合缺陷檢測(cè)方法,是將具有曲面、反光特性的葉片通過3D相機(jī)采集其三維數(shù)據(jù),設(shè)定特定大小的檢測(cè)窗口以對(duì)三維數(shù)據(jù)進(jìn)行分塊處理并以此實(shí)現(xiàn)缺陷的檢測(cè)及缺陷高度的計(jì)算,處理的方法主要是通過計(jì)算該檢測(cè)窗口內(nèi)的所有三維數(shù)據(jù)的擬合平面,以及每個(gè)三維數(shù)據(jù)點(diǎn)到擬合平面的距離,該距離即是缺陷的高度距離,最后通過圖像處理技術(shù)輸出缺陷的結(jié)果圖像。該方法提出基于三維數(shù)據(jù)的分塊擬合缺陷檢測(cè)技術(shù)能夠較好地檢測(cè)高曲面、高反光的物體表面的缺陷,同時(shí)計(jì)算出缺陷的高度。