測(cè)試方法

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN201811237642.8 申請(qǐng)日 -
公開(kāi)（公告）號(hào) CN111090575B 公開(kāi)（公告）日 2021-07-30
申請(qǐng)公布號(hào) CN111090575B 申請(qǐng)公布日 2021-07-30
分類號(hào) G06F11/36（2006.01）I 分類 計(jì)算；推算；計(jì)數(shù);
發(fā)明人 王春宇 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 億度慧達(dá)教育科技（北京）有限公司
代理機(jī)構(gòu) 北京合智同創(chuàng)知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 李杰;蘭淑鐸
地址 100144北京市石景山區(qū)八大處高科技園區(qū)6-C號(hào)地3號(hào)樓429室
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明提供一種測(cè)試方法,屬于計(jì)算機(jī)技術(shù)領(lǐng)域。測(cè)試方法包括：獲取待測(cè)試的系統(tǒng)調(diào)用接口的信息；根據(jù)系統(tǒng)調(diào)用接口的信息，按照設(shè)定的生成規(guī)則，生成用于對(duì)系統(tǒng)調(diào)用接口進(jìn)行測(cè)試的測(cè)試模板，其中，測(cè)試模板中包含有用于對(duì)系統(tǒng)調(diào)用接口進(jìn)行調(diào)用測(cè)試的測(cè)試指令；通過(guò)測(cè)試服務(wù)器將測(cè)試模板發(fā)送至至少一個(gè)待測(cè)設(shè)備，指示各個(gè)待測(cè)設(shè)備根據(jù)測(cè)試模板中的測(cè)試指令對(duì)本地的系統(tǒng)調(diào)用接口進(jìn)行調(diào)用測(cè)試。由此，一方面，可以系統(tǒng)地生成待測(cè)試的所有系統(tǒng)調(diào)用接口的測(cè)試指令；另一方面，對(duì)于需要測(cè)試的多個(gè)待測(cè)設(shè)備，可以使用同一測(cè)試模板進(jìn)行本地的多個(gè)系統(tǒng)調(diào)用接口的測(cè)試，實(shí)現(xiàn)了待測(cè)設(shè)備系統(tǒng)調(diào)用接口的批量化測(cè)試，從而有效提高了系統(tǒng)調(diào)用接口的測(cè)試效率。