圖像校準方法和裝置、設備及存儲介質

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202110607397.0 申請日 -
公開（公告）號 CN113327204A 公開（公告）日 2021-08-31
申請公布號 CN113327204A 申請公布日 2021-08-31
分類號 G06T5/00（2006.01）I;G06K9/62（2006.01）I;G06T7/00（2017.01）I 分類 計算；推算；計數;
發(fā)明人 劉成成;韓春營;陳晨;陳杰運;俞宗強;蔣俊海 申請（專利權）人 中科晶源微電子技術（北京）有限公司
代理機構 北京市鼎立東審知識產權代理有限公司 代理人 陳佳妹;朱慧娟
地址 102600北京市大興區(qū)北京經濟技術開發(fā)區(qū)經海四路156號院12號樓5層
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本申請涉及一種圖像校準方法和裝置、設備及存儲介質，其中方法包括：由預先設置的兩種以上的校準模式中選取當前模式；基于當前模式，由待檢測圖像中截取標準圖像，并使用標準圖像對待檢測圖像、第一參考圖像和第二參考圖像進行匹配校準，得到待檢測圖像與第一參考圖像的第一校準結果，以及待檢測圖像與第二參考圖像的第二校準結果；對第一校準結果和第二校準結果進行準確性判斷；在判斷出第一校準結果和第二校準結果均不準確時，更換當前的校準模式，并基于更換后的校準模式對待檢測圖像、第一參考圖像和第二參考圖像進行匹配校準。通過對待檢測圖像的不同截取方式進行區(qū)分并定義為不同的校準模式，有效提高了圖像校準結果的準確度。