瑕疵檢測方法、裝置、電子設備及計算機可讀存儲介質

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202110037669.8 申請日 -
公開（公告）號 CN114764774A 公開（公告）日 2022-07-19
申請公布號 CN114764774A 申請公布日 2022-07-19
分類號 G06T7/00（2017.01）I;G06V10/44（2022.01）I;G06V10/74（2022.01）I;G06V10/764（2022.01）I;G06V10/82（2022.01）I;G06T9/00（2006.01）I;G06K9/62（2022.01）I;G06N3/04（2006.01）I 分類 計算；推算；計數(shù);
發(fā)明人 陳怡樺;蔡東佐;郭錦斌;林子甄 申請（專利權）人 富泰華工業(yè)（深圳）有限公司
代理機構 深圳市賽恩倍吉知識產權代理有限公司 代理人 -
地址 518109廣東省深圳市龍華新區(qū)觀瀾街道大三社區(qū)富士康觀瀾科技園B區(qū)廠房4棟、6棟、7棟、13棟（Ⅰ段）
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明涉及圖像檢測技術，提供一種瑕疵檢測方法、裝置、電子設備及存儲介質。該方法包括：（a）將多張無瑕疵圖像導入至一自編碼器進行模型訓練，以獲得多張重構圖像；（b）將所述重構圖像與對應的無瑕疵圖像進行對比，以得到多組測試誤差；（c）按照預設規(guī)則從多組測試誤差中選取一誤差閾值；（d）獲得一待測圖像，并重復步驟（a）至步驟（b），得到一待測重構圖像及一待測誤差；（e）根據所述待測誤差與所述誤差閾值，確定所述待測圖像的檢測結果；（f）當所述檢測結果為所述待測圖像有瑕疵時，將所述待測圖像導入至一分類器進行瑕疵分類，以輸出分類結果。本發(fā)明提供的瑕疵檢測方法不需要收集、標記負樣本，有效降低人力成本。