一種用于薄膜基材的雙偏光檢測裝置

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202122228279.7 申請日 -
公開（公告）號 CN215449032U 公開（公告）日 2022-01-07
申請公布號 CN215449032U 申請公布日 2022-01-07
分類號 G01N21/88（2006.01）I;G01N21/01（2006.01）I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 刁銳敏;廖靖;葉衛(wèi)鼎;賁可華 申請（專利權）人 微覺視檢測技術（蘇州）有限公司
代理機構 成都天嘉專利事務所（普通合伙） 代理人 趙麗
地址 621000四川省綿陽市涪城區(qū)高端裝備制造產(chǎn)業(yè)園鳳凰中路29號
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本實用新型公開了一種用于薄膜基材的雙偏光檢測裝置，涉及材料光學檢測設備技術領域，包括機架，所述機架下方固定設置有光源組件，所述光源組件上方的機架上安裝有相機組件，所述相機組件用于觀察光源組件與相機組件之間的材料形態(tài)，所述相機組件從上至下依次包括相機、鏡頭和圓形偏光鏡頭，所述光源組件從下至上包括LED燈珠、聚光結構、擴散膜、隔離層、線偏光片和超白玻璃I，所述LED燈珠、聚光結構、擴散膜、隔離層、線偏光片和超白玻璃I依次緊密貼合在一起，可解決現(xiàn)有技術中不能有效檢測PC、PMMA以及PC和PMMA復合板上表面疵點的問題。