基于神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)的GaNJBS二極管器件性能預(yù)測方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202210258348.5 申請日 -
公開（公告）號 CN114692491A 公開（公告）日 2022-07-01
申請公布號 CN114692491A 申請公布日 2022-07-01
分類號 G06F30/27（2020.01）I;G06N3/04（2006.01）I;G06N3/08（2006.01）I 分類 計算；推算；計數(shù);
發(fā)明人 段小玲;馬浩;王樹龍;張進成;張金風(fēng);郝躍 申請（專利權(quán)）人 西安電子科技大學(xué)
代理機構(gòu) 西安睿通知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所（特殊普通合伙） 代理人 -
地址 710071陜西省西安市雁塔區(qū)太白南路2號
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明涉及微電子器件技術(shù)與人工智能技術(shù)領(lǐng)域，具體涉及基于神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)的GaN JBS二極管器件性能預(yù)測方法。本發(fā)明充分利用神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)深度學(xué)習(xí)根據(jù)數(shù)據(jù)自動提取特征的特點，將其應(yīng)用于GaN JBS二極管器件性能的預(yù)測，從而快速預(yù)測器件性能，并根據(jù)預(yù)測結(jié)果調(diào)整輸入結(jié)構(gòu)來優(yōu)化器件特性；彌補了傳統(tǒng)器件仿真和實驗測試方法周期長、效率低、耗時耗力的不足，快速便捷地建立起由GaN JBS二極管器件結(jié)構(gòu)與性能指標(biāo)之間的關(guān)聯(lián)，能夠加速GaN JBS二極管性能預(yù)測的研究，降低預(yù)期性能指標(biāo)下器件結(jié)構(gòu)的設(shè)計難度。