一種基于深度學(xué)習(xí)的SiC二極管特性曲線預(yù)測(cè)方法
基本信息
| 申請(qǐng)?zhí)?/td> | CN202210320222.6 | 申請(qǐng)日 | - |
| 公開(kāi)（公告）號(hào) | CN114692498A | 公開(kāi)（公告）日 | 2022-07-01 |
| 申請(qǐng)公布號(hào) | CN114692498A | 申請(qǐng)公布日 | 2022-07-01 |
| 分類號(hào) | G06F30/27（2020.01）I;G06N3/04（2006.01）I;G06N3/08（2006.01）I | 分類 | 計(jì)算；推算；計(jì)數(shù); |
| 發(fā)明人 | 王樹(shù)龍;劉晨鈺;劉艷;陳棟梁;郝躍;韓根全 | 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 | 西安電子科技大學(xué) |
| 代理機(jī)構(gòu) | 西安睿通知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所（特殊普通合伙） | 代理人 | - |
| 地址 | 710071陜西省西安市雁塔區(qū)太白南路2號(hào) | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要
| 摘要 | 本發(fā)明涉及微電子器件及神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)深度學(xué)習(xí)領(lǐng)域，具體涉及一種基于深度學(xué)習(xí)的SiC二極管特性曲線預(yù)測(cè)方法。本發(fā)明使用深度學(xué)習(xí)神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)快速且便捷地預(yù)測(cè)出碳化硅二極管的反向特性曲線和正向特性曲線，且有較高的準(zhǔn)確率，降低了傳統(tǒng)仿真方法的人力、時(shí)間成本。 |
