一種基于深度學(xué)習(xí)的小目標(biāo)檢測(cè)方法、裝置、設(shè)備和介質(zhì)

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN201810470081.X 申請(qǐng)日 -
公開（公告）號(hào) CN108648211B 公開（公告）日 2020-05-01
申請(qǐng)公布號(hào) CN108648211B 申請(qǐng)公布日 2020-05-01
分類號(hào) G06T7/194;G06T7/13;G06T7/12 分類 計(jì)算；推算；計(jì)數(shù);
發(fā)明人 馬明陽;田志博 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 思百達(dá)物聯(lián)網(wǎng)科技（北京）有限公司
代理機(jī)構(gòu) 北京萬思博知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 思百達(dá)物聯(lián)網(wǎng)科技（北京）有限公司
地址 100000 北京市朝陽區(qū)東四環(huán)中路62號(hào)遠(yuǎn)洋國(guó)際中心D座1005室
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本申請(qǐng)公開了一種基于深度學(xué)習(xí)的小目標(biāo)檢測(cè)方法、裝置、設(shè)備和介質(zhì)。該方法包括：將圖像集合中的第一圖像作為背景模型，將第一圖像的每一個(gè)像素點(diǎn)建立初始樣本集，初始樣本集包括與該像素點(diǎn)臨近的像素點(diǎn)的像素值；將圖像集合的第二圖像中的像素點(diǎn)的第二樣本集與第一圖片中對(duì)應(yīng)的像素點(diǎn)的初始樣本集進(jìn)行對(duì)比，將第二圖像的像素點(diǎn)劃分為前景點(diǎn)或背景點(diǎn)；確定第二圖像中被劃分為前景的像素點(diǎn)所構(gòu)成的輪廓以形成前景區(qū)域圖片；利用經(jīng)過訓(xùn)練的分類模型對(duì)前景區(qū)域圖片進(jìn)行分類，從而確定待檢測(cè)的目標(biāo)。本申請(qǐng)?zhí)峁┑姆椒軌蛟趯?shí)際場(chǎng)景中快速且高精度的檢測(cè)小目標(biāo)，與傳統(tǒng)檢測(cè)算法相比，計(jì)算時(shí)間短、重復(fù)計(jì)算量小、背景建模更新速度快且檢測(cè)精度高。