一種液晶屏外觀缺陷檢測(cè)方法、裝置及存儲(chǔ)介質(zhì)

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN202110726191.X 申請(qǐng)日 -
公開(kāi)（公告）號(hào) CN113409290A 公開(kāi)（公告）日 2021-09-17
申請(qǐng)公布號(hào) CN113409290A 申請(qǐng)公布日 2021-09-17
分類號(hào) G06T7/00（2017.01）I;G06T5/00（2006.01）I;G06K9/46（2006.01）I;G06K9/62（2006.01）I;G06N3/04（2006.01）I;G06N3/08（2006.01）I 分類 計(jì)算；推算；計(jì)數(shù);
發(fā)明人 靳松;張蓮蓮;田永軍;徐博超;陶平;李偉 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 北京兆維電子（集團(tuán)）有限責(zé)任公司
代理機(jī)構(gòu) 北京輕創(chuàng)知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 尉保芳
地址 100015北京市朝陽(yáng)區(qū)酒仙橋路14號(hào)
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明提供一種液晶屏外觀缺陷檢測(cè)方法、裝置及存儲(chǔ)介質(zhì)，方法包括：導(dǎo)入待處理圖像集，并逐一對(duì)待處理圖像集中的待處理圖像進(jìn)行圖像預(yù)處理，集合預(yù)處理后的所有圖像得到圖像訓(xùn)練集，構(gòu)建訓(xùn)練模型，并根據(jù)圖像訓(xùn)練集對(duì)訓(xùn)練模型進(jìn)行模型優(yōu)化，得到檢測(cè)模型，導(dǎo)入待檢測(cè)圖像，根據(jù)檢測(cè)模型對(duì)待檢測(cè)圖像進(jìn)行檢測(cè)，得到液晶屏外觀是否存在缺陷的檢測(cè)結(jié)果。本發(fā)明避免了人工設(shè)計(jì)復(fù)雜的算法流程，大大降低了研發(fā)困難度，并且有著極高的魯棒性和精度。