一種基于CELL的邊緣缺陷檢測方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202110737272.X 申請日 -
公開（公告）號 CN113409295A 公開（公告）日 2021-09-17
申請公布號 CN113409295A 申請公布日 2021-09-17
分類號 G06T7/00（2017.01）I;G06T7/11（2017.01）I;G06T7/13（2017.01）I;G06T5/00（2006.01）I;G06T3/60（2006.01）I;G06N3/04（2006.01）I;G06N3/08（2006.01）I 分類 計算；推算；計數;
發(fā)明人 陳晨;陶平;張蓮蓮;靳松;田永軍;李偉;陳永超 申請（專利權）人 北京兆維電子（集團）有限責任公司
代理機構 北京輕創(chuàng)知識產權代理有限公司 代理人 趙秀斌
地址 100015北京市朝陽區(qū)酒仙橋路14號
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明涉及一種基于CELL的邊緣缺陷檢測方法，包括：收集歷史檢測CELL產品累積的數據樣本，得到數據標注樣本；將數據標注樣本輸入深度卷積神經網絡中進行模型訓練，訓練出一個穩(wěn)定收斂的分割模型；捕捉待測CELL產品的產品圖像，通過分割模型分割出產品圖像中的缺陷坐標位置和mark坐標位置，將缺陷坐標位置輸出；調取待測CELL產品的產品圖像，將有限個邊緣點進行直線擬合，分別得到水平擬合線和垂直擬合線；根據mark坐標位置，分別對擬合出來的水平擬合線和垂直擬合線進行間距測量，得到間距參數輸出。本發(fā)明建立了分割模型，能夠對輸入的產品圖像中的缺陷進行分割，能夠同步對CELL產品的缺陷以及邊距進行測量，提升檢測效率，缺陷和邊距檢測精度高。