任意波形格式生成方法、裝置、測試設備和存儲介質

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202110271551.1 申請日 -
公開（公告）號 CN112924854A 公開（公告）日 2021-06-08
申請公布號 CN112924854A 申請公布日 2021-06-08
分類號 G01R31/3181;G01R31/3183;G01R31/28 分類 測量；測試;
發(fā)明人 郭憲超;陳良;石培杰;姚健 申請（專利權）人 北京華峰測控技術股份有限公司
代理機構 北京華進京聯(lián)知識產權代理有限公司 代理人 馬云超
地址 100071 北京市豐臺區(qū)海鷹路1號院2號樓7層
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本申請涉及一種任意波形格式生成方法、裝置、測試設備和存儲介質。所述方法包括：獲取波形讀取指令，根據該波形讀取指令讀取波形數據序列；獲取最小波形格式單元信息；根據該最小波形格式單元信息和該波形數據序列拼接出目標波形。該方法只用通過所需的最小波形格式單元信息和波形數據序列就可以拼接出任意所需波形，滿足量產芯片的測試需求，提高了測試效率。