在集成電路電子元器件測試中針對測試系統(tǒng)的監(jiān)控方法和監(jiān)控系統(tǒng)

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201810732830.1 申請日 -
公開（公告）號 CN109100671B 公開（公告）日 2021-06-22
申請公布號 CN109100671B 申請公布日 2021-06-22
分類號 G01R35/00 分類 測量；測試;
發(fā)明人 周偉;尹詩龍;牛前犇;姚健;李晨陽 申請（專利權）人 北京華峰測控技術股份有限公司
代理機構 北京華夏正合知識產權代理事務所（普通合伙） 代理人 韓登營;張煥亮
地址 100070 北京市豐臺區(qū)海鷹路1號2號樓7層
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明提供了一種在集成電路電子元器件測試中針對測試系統(tǒng)的監(jiān)控方法及監(jiān)控系統(tǒng)，包括步驟：A、在集成電路電子元器件量產測試前，對測試系統(tǒng)進行初始化處理；B、定義所述測試系統(tǒng)的故障類型及故障等級信息，進入對集成電路電子元器件的量產測試階段；C、基于所定義的所述故障類型及故障等級信息，實時檢測所述測試系統(tǒng)的工作狀態(tài)以進行故障類型判別，若無故障則繼續(xù)測試直至測試結束，否則進入步驟D；D、判斷所述故障等級是否為致命故障，若是則停止測試，否則返回步驟C。由上，在量產測試過程中對測試系統(tǒng)進行實時監(jiān)控，及時地監(jiān)控到故障的發(fā)生，并停止測試，從而避免在故障狀態(tài)下繼續(xù)生產，最大程度減少被測IC器件的損壞，同時監(jiān)控過程不影響測試效率。