測試電路、測試設(shè)備以及測試電路測試方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202110485124.3 申請日 -
公開（公告）號 CN113176488A 公開（公告）日 2021-07-27
申請公布號 CN113176488A 申請公布日 2021-07-27
分類號 G01R31/26（2014.01）I;G01R31/52（2020.01）I;G01R31/14（2006.01）I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 陳躍俊;鞏志遠;劉興;袁鑫 申請（專利權(quán)）人 北京華峰測控技術(shù)股份有限公司
代理機構(gòu) 北京華進京聯(lián)知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 吳娜娜
地址 100071北京市豐臺區(qū)海鷹路1號院2號樓7層
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本申請實施例提供一種測試電路、測試設(shè)備以及測試電路測試方法。需要對被測試器件測試時，控制第一開關(guān)導(dǎo)通，控制被測試器件開啟。此時電源的正極、第一開關(guān)、電感、測試端、電源的負(fù)極依次連接構(gòu)成回路。電源給電感充電。電感的電流逐漸增大。當(dāng)電感的電流增大到一定程度后，控制第一開關(guān)斷開，并且關(guān)斷被測試器件、導(dǎo)通第二開關(guān)。此時第二開關(guān)、電源的正極、電源的負(fù)極、二極管、電感的第一端、電感的第二端依次連接形成第二回路。電感中的電流可以依次通過第二開關(guān)、電源、二極管釋放。電感中的電流還可以被電源回收。因此測試電路能夠快速實現(xiàn)電感中的電流清零，便于快速進行下一次的測試，提高了測試效率。