一種確定鑄態(tài)立方晶系單晶體三維晶體取向的方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202210323362.9 申請日 -
公開（公告）號 CN114689405A 公開（公告）日 2022-07-01
申請公布號 CN114689405A 申請公布日 2022-07-01
分類號 G01N1/28（2006.01）I;G01N1/32（2006.01）I;B28D5/00（2006.01）I;B24B1/00（2006.01）I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 胡松松;汪璞;白偉民;王鑫銘;尹付成 申請（專利權）人 湘潭大學
代理機構 湘潭市匯智專利事務所（普通合伙） 代理人 -
地址 411105湖南省湘潭市雨湖區(qū)羊牯塘27號
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開一種確定鑄態(tài)立方晶系單晶體三維晶體取向的方法。本發(fā)明包括切割單晶體、在截面1上做與一次枝晶平行的標記線1、垂直截面1切割標定試樣1、在截面2上做與一次枝晶平行的標記線2、垂直截面2切割標定試樣2和在截面3上標定晶體取向等步驟。本發(fā)明可以確定任意形狀鎳基單晶高溫合金的三維晶體取向，突破了現(xiàn)有技術只能確定具有中心軸特征的鑄態(tài)塊狀材料的局限，同時流程簡單、對設備要求低。