一種缺陷檢測方法、系統(tǒng)與裝置、計算機可讀存儲介質(zhì)

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201810725240.6 申請日 -
公開（公告）號 CN110687119A 公開（公告）日 2020-01-14
申請公布號 CN110687119A 申請公布日 2020-01-14
分類號 G01N21/88 分類 測量；測試;
發(fā)明人 姜仔達 申請（專利權(quán)）人 東騰投資集團有限公司
代理機構(gòu) 北京安信方達知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 東騰投資集團有限公司;北京暉宏科技有限公司
地址 100012 北京市朝陽區(qū)紅軍營南路15號院1號樓-2至12層101內(nèi)10層1002A室
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本申請公開了一種缺陷檢測方法、系統(tǒng)與裝置、計算機可讀存儲介質(zhì)，所述缺陷檢測方法包括：照射被檢測物，采集照射的被檢測物的圖像；計算采集的圖像中像素點的灰度值；根據(jù)計算的采集的圖像中像素點的灰度值確定缺陷區(qū)域。本申請公開的缺陷檢測方法、系統(tǒng)與裝置、計算機可讀存儲介質(zhì)，通過根據(jù)計算的采集的圖像中像素點的灰度值確定缺陷區(qū)域，實現(xiàn)了自動化缺陷檢測，避免了人工檢測發(fā)生的誤檢、漏檢等問題，保證了檢測的品質(zhì)，降低了人力成本。