基于劑量場(chǎng)檢測(cè)的輻射成像方法及裝置

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN201910568018.4 申請(qǐng)日 -
公開(kāi)（公告）號(hào) CN112146601A 公開(kāi)（公告）日 2021-07-16
申請(qǐng)公布號(hào) CN112146601A 申請(qǐng)公布日 2021-07-16
分類(lèi)號(hào) G01B15/02;G01T1/29 分類(lèi) 測(cè)量；測(cè)試;
發(fā)明人 陳志強(qiáng);李元景;韓志偉;楊光;覃懷莉;戚文元;鄺山;梁愛(ài)鳳;劉燕琴 申請(qǐng)（專(zhuān)利權(quán)）人 同威信達(dá)技術(shù)（北京）股份有限公司
代理機(jī)構(gòu) 北京東方億思知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限責(zé)任公司 代理人 彭瓊
地址 100084 北京市海淀區(qū)清華園1號(hào)
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本公開(kāi)公開(kāi)了一種基于劑量場(chǎng)檢測(cè)的輻射成像方法及裝置。其中，基于劑量場(chǎng)檢測(cè)的輻射成像方法包括：獲取采用X射線掃描待檢測(cè)物體時(shí)待檢測(cè)物體在X射線對(duì)應(yīng)的輻照能量下的質(zhì)量厚度數(shù)據(jù)；根據(jù)待檢測(cè)物體對(duì)應(yīng)的質(zhì)量厚度分類(lèi)條件，對(duì)質(zhì)量厚度數(shù)據(jù)中的各個(gè)質(zhì)量厚度值進(jìn)行分類(lèi)；其中，質(zhì)量厚度分類(lèi)條件根據(jù)待檢測(cè)物體對(duì)應(yīng)的質(zhì)量厚度值和電子束輻照劑量分布數(shù)據(jù)的映射關(guān)系數(shù)據(jù)確定；根據(jù)各個(gè)質(zhì)量厚度值及其所屬分類(lèi)、電子束輻照劑量分布數(shù)據(jù)，生成用于顯示待檢測(cè)物體的質(zhì)量厚度和電子束輻照劑量分布數(shù)據(jù)的輻射圖像。根據(jù)本公開(kāi)實(shí)施例，使得測(cè)試人員能夠直觀地根據(jù)輻射圖像確定劑量不均勻度是否符合要求，提高測(cè)試效率、降低測(cè)試成本。